膜厚測(cè)試儀 回收、維修、租賃
應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從17(Cl)到92(U);
5 層(4 鍍層+ 基材) / 24 元素/ 共存元素校正;
組成成分分析時(shí)可同時(shí)測(cè)定24 種元素;
元素光譜定性分析;
基材分析
X-ray 接收器：數(shù)字半導(dǎo)體接收器
測(cè)量精度：3%或±5%μm 依照參考標(biāo)準(zhǔn)片
高價(jià)回收FISCHER X-RAY XDLM-C4膜厚儀提供租憑服務(wù)
菲希爾 Fischer ：XDLM-B、XDL-B、XMDVM-T7.1W、XMDVM-T7.1P XUL XULM XDLM231 XDL210 XDL230 XDV-u等等
日本精工 Sii：SFT9100、SFT9200 SFT9255、SFT9300、SFT9400；SFT110 等等
牛津 CMI：CMI980 CMI900、CMI920 等等
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